บ้าน
ผลิตภัณฑ์
สายเชื่อม
สายทองเทงกราน
สายทองแดงเคลือบทอง
สายโมลิบเดนัมเคลือบทอง
ลวดทังสเตน
สายเงินทอง
สายทองแดงเคลือบด้วยพัลลาเดียม
สายทองแดงละเอียดมาก
สายทองแดงเบริลลียม
เครื่องตรวจสอบสปริง
บริการเคลือบไฟฟ้าทองคํา
วิดีโอ
เกี่ยวกับเรา
โปรไฟล์บริษัท
ทัวร์โรงงาน
การควบคุมคุณภาพ
ติดต่อเรา
เหตุการณ์ที่เกิดขึ้น
ข่าว
กรณี
thai
english
français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국
العربية
हिन्दी
Türkçe
indonesia
tiếng Việt
ไทย
বাংলা
فارسی
polski
บ้าน > ผลิตภัณฑ์ > เครื่องตรวจสอบสปริง >
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe

2A Current Rating Test Probe

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

สถานที่กำเนิด:

จีน

ชื่อแบรนด์:

WINNER

ได้รับการรับรอง:

ISO9100

ติดต่อเรา
ขอคําอ้างอิง
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing
รายละเอียดสินค้า
ชื่อสินค้า:
โซนด์ทดสอบสปริง
ถัง:
PB, ชุบทอง
ลูกสูบด้านล่าง:
BeCu/SK4 ชุบทอง
ลูกสูบด้านบน:
SK4(Be Cu)/ชุบทอง
ฤดูใบไม้ผลิ:
SWPB(SUS)/ชุบทอง
ความพร้อมใช้งาน:
ขนาดที่กำหนดเอง
การเคลือบผิว:
ชุบทอง
เรตติ้งปัจจุบัน:
2a
ต้านทานการติดต่อ:
สูงสุด 100 โมโอห์ม
แบนด์วิธ:
-0.44dB @ 19.6GHz
ตัวเหนี่ยวนำ:
1.36nH
แคปแทนซ์:
1.76pF
เต็มจังหวะ:
1.8มม
โรคหลอดเลือดสมอง:
1.8มม
แรงสปริง:
40กรัม@1.8มม
อายุการใช้งานเครื่องกลเกิน:
200k
เน้น:

Gold Plated Spring Test Probe

,

2A Current Rating Test Probe

,

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

เงื่อนไขการชําระเงินและการจัดส่ง
จำนวนสั่งซื้อขั้นต่ำ
3000pcs
ราคา
999
รายละเอียดการบรรจุ
การบรรจุเป็นกลางหรือโลโก้ OEM
เวลาการส่งมอบ
5-8 วันทำการ
เงื่อนไขการชำระเงิน
แอล/C, เวสเทิร์นยูเนี่ยน, ที/ที
สามารถในการผลิต
100,000 ม้วนต่อเดือน
สินค้าที่เกี่ยวข้อง
ราคาดี Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Precision Semiconductor Testing ออนไลน์

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Precision Semiconductor Testing

หา ราคา ที่ ดี ที่สุด
ราคาดี Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing ออนไลน์

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

หา ราคา ที่ ดี ที่สุด
ราคาดี High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-038BF32-01C0 ออนไลน์

High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-038BF32-01C0

หา ราคา ที่ ดี ที่สุด
ราคาดี หัววัดทดสอบสปริงเคลือบทองทนทานสูง ออนไลน์

หัววัดทดสอบสปริงเคลือบทองทนทานสูง

หา ราคา ที่ ดี ที่สุด
ติดต่อเรา
ติดต่อตอนนี้
คําอธิบายสินค้า
High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-048DB81-01C0
High Efficiency BGA Testing Probes
Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.
Key Product Features
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Product Images
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 0
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 1
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 2
Detailed Component Illustration
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 3
Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 4
Our probe manufacturing facility
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 5
Quality control inspection
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 6
Packaged probes ready for shipment
แท็ก：

อิเล็กทรอนิกส์ทองเหลืองทองเหลือง

0.01mm Tungsten Wire R&D

อิเล็กทรอนิกส์จากสายโมลิบเดนัมเคลือบทอง

ส่งข้อสอบของคุณตรงมาหาเรา

โทรศัพท์：86-158-1857-6616
อีเมล：sales@winner-sc.com
เกี่ยวกับเรา
โปรไฟล์บริษัท
ทัวร์โรงงาน
การควบคุมคุณภาพ
แผนผังเว็บไซต์
เหตุการณ์ที่เกิดขึ้น
ข่าว
กรณี
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
บริษัท ซิชวาน วินเนอร์ สเปเชียล อิเล็กทรอนิกส์ คอมพิวเตอร์ จํากัด เน้นการผลิตสายโลหะเคลือบ ultra-fine สําหรับบรรจุสารครึ่งตัวนํา
เราจะติดต่อคุณเร็วที่สุดเท่าที่จะทําได้
นโยบายความเป็นส่วนตัว จีน คุณภาพดี สายเชื่อม ผู้จัดจําหน่าย.ลิขสิทธิ์ 2024-2025 SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. สิทธิทั้งหมดถูกเก็บไว้